红外半导体下转换机理研究
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兵器“十五”第二批预研基金项目


Light Downconversion Mechanism of Infrared Semiconductor
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    文中研究了红外半导体下转换机理,给出了红外转换系统试验原理图,对红外转换屏的温度特性和响应时间特性及不同温度下的光谱辐射特性进行了实验测试。实验表明:当激光器功率一定时,半导体屏有一个最佳工作温度点;半导体屏的响应时间小于100μs;输出光谱覆盖的范围是3~14μm。

    Abstract:

    Light downconversion mechanism and a schematic of downconversion is presented. Temperature and risefall time are tested. Spectral distributions of IR emission of semiconductor scene of different temperature are given. The experiment indicates that semiconductor converter has an optimal temperature when power of laser is given and risefall time is less than 100μs. Spectral range of simulated IR image is between 3μm and 14μm.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

赵宇洁,高教波.红外半导体下转换机理研究[J].激光与红外,2007,37(8):747~749
ZHAO Yu-jie, GAO Jiao-bo. Light Downconversion Mechanism of Infrared Semiconductor[J]. LASER & INFRARED,2007,37(8):747~749

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