一种研究一维光子晶体缺陷模的新方法——解析法
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教育部工程研究中心重点项目基金(No.07011302)资助


A New Method of Study the Defect Mode of One-dimensional Photonic Crystal
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    摘要:

    为了解析地研究一维光子晶体的缺陷模,利用多光束干涉原理和布洛赫定理,推导出一维光子晶体缺陷模的解析公式。利用它对一维光子晶体的缺陷模进行了解析研究,得到了缺陷模的变化规律。这一方法克服了特征矩阵法和F-P法不能对缺陷模进行解析分析的弱点,是一种研究一维光子晶体缺陷模的精确和有效的方法。

    Abstract:

    For analytic studying the defect mode of 1D photonic crystal,the multiple-beam interference method and Bloh theorem are adopted,the analytical formula of defect mode is derived and the defect mode of 1D photonic crystal is studied.The variety regulation of defect mode is obtained.The method avoided the characteristic matrix methods and the F-P methods weakness that can′t carry on analysis defect mode.The method is valid and accurate methods that study the defect mode of 1D photonic crystal.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

刘启能.一种研究一维光子晶体缺陷模的新方法——解析法[J].激光与红外,2008,38(8):799~801
LIU Qi-neng. A New Method of Study the Defect Mode of One-dimensional Photonic Crystal[J]. LASER & INFRARED,2008,38(8):799~801

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