红外焦平面探测器杜瓦组件真空寿命分析

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红外焦平面探测器杜瓦组件真空寿命分析
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Vacuum life analyse of infrared detector & dewar assembly

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介绍了探测器杜瓦组件的加速寿命试验方法，对用于某机载红外热成像系统长波576×6 HgCdTe红外焦平面探测器组件的无维护真空寿命进行了分析，结果表明，产品真空寿命超过10年（可靠度为95%），满足产品应用要求。

Abstract:

The paper introduces accelerated life testing of integrated detector dewar assembly (IDDA).With this method,the vacuum life of long wave 576×6 HgCdTe IDDA is analyzed.The result indicates that the vacuum life of the product is longer than 10 years(95% reliability),which satisfies the application requirement.

参考文献

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引用本文

林日东,刘伟,王冠,张磊.红外焦平面探测器杜瓦组件真空寿命分析[J].激光与红外,2011,41(7):779~783
LIN Ri-dong, LIU Wei, WANG Guan, ZHANG Lei. Vacuum life analyse of infrared detector & dewar assembly[J]. LASER & INFRARED,2011,41(7):779~783

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