红外焦平面探测器杜瓦组件杂散辐射研究
DOI:
作者:
作者单位:

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

基金项目:


Study on stray radiation of infrared detector Dewar assembly
Author:
Affiliation:

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    在对红外焦平面探测器杜瓦组件杂散辐射分析的过程中,建立了分析模型,通过对模型进行光线追迹,找到了窗片、滤光片、冷屏、探测器芯片的反射是产生杂散辐射的原因。针对这些原因,采取了相应抑制杂散辐射的方式,包括通过镀膜降低窗片、滤光片反射率,通过发黑、设计多层隔板来提高冷屏的吸收能力,通过在探测器芯片上制作可靠性高的微纳结构来降低表面反射率等,起到了较好的效果。

    Abstract:

    The analysis model of stray radiation was set up for infrared focal plane detector Dewar assembly.Through ray tracing,it is found that the reflection of window,filter,cold shield,detector chip is the cause of stray radiation,and some methods were used to suppress stray radiation,such as reducing the reflectivity of window and filter,improving the absorbing ability of cold shield,making micro-nano structure on the chip,etc.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

林国画,张磊,张敏.红外焦平面探测器杜瓦组件杂散辐射研究[J].激光与红外,2018,48(9):1108~1112
LIN Guo-hua, ZHANG Lei, ZHANG Min. Study on stray radiation of infrared detector Dewar assembly[J]. LASER & INFRARED,2018,48(9):1108~1112

复制
分享
文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:
  • 最后修改日期:
  • 录用日期:
  • 在线发布日期: 2018-10-23
  • 出版日期: