短/中波双色碲镉汞红外焦平面探测器研究
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Research on SW/MW dual-band MCT focal plane arrays
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    摘要:

    报道了基于分子束外延碲镉汞短/中波双色材料、器件的最新研究进展。采用分子束外延方法制备出了高质量的短/中波双色碲镉汞材料,并优化了材料的质量,材料表面缺陷密度控制在500个/cm-2以内,通过扫描电子显微镜可以看出各层之间界面陡峭,使用傅里叶红外变换光谱仪(FTIR)、X射线衍射(XRD)等方法对材料进行了表征,基于此材料制备出了短/中波碲镉汞双色器件,器件测试性能良好。

    Abstract:

    The latest research progress on materials and devices of dual-band MCT based on molecular beam epitaxy were presented.High quality MCT dual-band thin films were prepared by MBE technology and improvements on macro-defects and crystal quality were made.Wafers were measured by SEM,FTIR,XRD.FPAs were produced by mating devices from these wafers to dual-band read-out integrated circuits.The FPAs exhibited high optical-electronic quality at 80K.

    参考文献
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引用本文

王经纬,晋舜国,陈慧卿,王亮,周立庆.短/中波双色碲镉汞红外焦平面探测器研究[J].激光与红外,2018,48(11):1395~1398
WANG Jing-wei, JIN Shun-guo, CHEN Hui-qing, WANG Liang, ZHOU Li-qing. Research on SW/MW dual-band MCT focal plane arrays[J]. LASER & INFRARED,2018,48(11):1395~1398

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  • 在线发布日期: 2018-12-20
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